M-Z光學(xué)干涉儀

產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2025-02-25
產(chǎn)品介紹：M-Z光學(xué)干涉儀通過(guò)比較被測(cè)物和參考物的相位（表現(xiàn)為條紋的變化），從而實(shí)現(xiàn)被測(cè)物的物理量的測(cè)量。
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產(chǎn)品介紹

M-Z光學(xué)干涉儀產(chǎn)品說(shuō)明：

馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過(guò)比較被測(cè)物和參考物的相位（表現(xiàn)為條紋的變化），從而實(shí)現(xiàn)被測(cè)物的物理量的測(cè)量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測(cè)量透明介質(zhì)折射率的微小變化，可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導(dǎo)等方面的研究。

M-Z光學(xué)干涉儀技術(shù)參數(shù)：

參數(shù)	大值	小值	備注
視場(chǎng)	Φ500mm	Φ50mm
干涉條紋間距	無(wú)窮大	0.1mm
圖像分析軟件	滿足干涉條紋背景濾波、二值化、細(xì)化與修像、標(biāo)記、采樣讀數(shù)、物理參數(shù)計(jì)算讀取等功能
成像傳感器	數(shù)碼單反相機(jī)、高速相機(jī)、記錄干板
光源	532nm激光光源、632.8nm激光光源
其他	系統(tǒng)采用有效的減振方式

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